基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
推荐文章
基于冲突域的测试成本独立决策系统属性约简
决策系统
测试成本独立
冲突域
属性约简
惠瑞捷可扩展测试机台系列降低新一代IC测试成本
测试成本
可扩展
机台
Advantest
IC
Scale
高性价比
小尺寸
海上测试成本控制工作方法的实践与效果
测试工艺
作业效率
现场管理
降低二氧化碳泡沫成本并提高注入率
磺化木质素
发泡剂
助表面活性剂
协同效应
降低成本
流度控制
提高原油采收率
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 降低测试成本,提高吞吐率
来源期刊 集成电路应用 学科 工学
关键词
年,卷(期) 2008,(9) 所属期刊栏目 封装与测试
研究方向 页码范围 43
页数 1页 分类号 TN4
字数 1461字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1674-2583.2008.09.012
五维指标
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (0)
节点文献
引证文献  (1)
同被引文献  (1)
二级引证文献  (1)
2008(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2011(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2015(1)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(1)
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
论文1v1指导