利用偏振态法测量光纤偏振效应

• 作者: 丁攀峰
• 来源期刊: 华中科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 偏振模色散 偏振相关损失 偏振态法 测量 方程
• 年，卷（期）: 2008,（7）
• 所属期刊栏目: 电子与信息工程
• 页码范围: 34-36
• 页数: 3页
• 分类号: TN929.1
• 字数: 1660字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1671-4512.2008.07.009

摘要

在庞加莱球的基础上,对原来偏振模色散的测量方法进行了理论分析,研究表明,一阶偏振模色散测量的误差影响二阶偏振模色散的测量.通过推导,提出了利用偏振态测量二阶偏振模色散的方法.此外,基于具有偏振相关损失和双折射的密勒矩阵洛伦兹变化特性,推导出利用偏振态测量偏振相关损失的简化方法,证实了测量偏振相关损失取决于密勒矩阵的第一列元素,该方法对于偏振相关损失的测量只需要2个输人偏振态,因此具有测量速度快和测量误差小的优点.实验的测量结果证实了利用偏振态测量2种光纤偏振效应的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁攀峰	华侨大学信息科学与工程学院	37	88	4.0	8.0