SOC的可测性设计策略

• 作者: 张盛兵 徐智伟
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 片上系统 可测性设计 存储器内建自测试 自动测试向量生成
• 年，卷（期）: 2008,（8）
• 所属期刊栏目: 自动化测试
• 页码范围: 1095-1098
• 页数: 4页
• 分类号: TN402|TN407
• 语种: 中文

摘要

通过一则设计实例研究SOC(System On Chip)的可测性设计策略;15针对系统中的特殊模块采取专用的可测性策略,如对存储器进行内建自测试,对锁相环测试其性能参数等;其它模块采用基于ATPG(Automatic Test Pattern Generation)的结构化测试方法进行测试,同时设计一些控制模块优化测试结构;经验证,应用这些策略,在满足了功耗和面积要求的前提下,系统总测试覆盖率达到了98.69%,且具有期望的可控制性和可观察性;因此在SOC设计中应灵活采用不同测试策略,合理分配测试资源从而达到预期的测试效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张盛兵	西北工业大学软件与微电子学院	142	912	15.0	23.0
2	徐智伟	西北工业大学软件与微电子学院	1	15	1.0	1.0