USB连接线端子产生锈蚀的机理

• 作者: 罗道军 蔡颖颖
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 锈蚀机理 通用串行总线 端子 表面镀层 聚氯乙烯
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 可靠性物理与失效分析技术
• 页码范围: 20-24
• 页数: 5页
• 分类号: TP336
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2008.06.006

摘要

通过对USB连接线中USB端子表面产生锈蚀机理的分析与试验验证,发现了导致USB锈蚀的主要机理是,壳外被覆的聚氯乙烯(PVC)塑胶层因其稳定性不理想,在高温高湿的环境条件下容易分解产生腐蚀性的氯化氢气体残存于USB壳的表面,并在空气中存在的氧气及水的共同作用下使其发生了腐蚀;当USB壳表面镀层存在缺陷或污染时,这种锈蚀愈发严重.针对锈蚀产生的机理给出了相应的控制对策.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗道军		7	24	3.0	4.0
2	蔡颖颖		8	5	1.0	1.0