基于SRAM的FPGA连线资源的一种可测性设计

• 作者: 张军营 来金梅 童家榕 黄均鼐
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: FPGA 可测性设计 移位寄存器链 故障诊断
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 1-6
• 页数: 6页
• 分类号: TN407
• 字数: 4419字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2008.01.001

摘要

FPGA(Field Programmable Gate Array)中连线资源所占面积最大,结构复杂,出现故障概率大,如何减少它的测试时间以降低测试成本,是很多研究者共同的目标.本文提出在FPGA芯片内插入多条移位寄存器链,只对开关盒连线资源进行编程下载,使得开关盒连线资源的测试时间比传统方法减少99%以上,大大减少了测试时间,降低了测试的成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	童家榕	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	56	284	9.0	13.0
2	来金梅	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	68	322	9.0	13.0
3	黄均鼐	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	6	45	4.0	6.0
4	张军营	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	1	12	1.0	1.0