互耦对阵列天线辐射特性的影响

• 作者: 冯春楠 李明 杨莘元 王垚
• 来源期刊: 应用科技
• 学科: 工学
• 关键词: 互耦 矩量法 RWG基函数 阵列天线
• 年，卷（期）: 2008,（10）
• 所属期刊栏目: 现代电子技术
• 页码范围: 1-4
• 页数: 4页
• 分类号: TN82
• 字数: 2164字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-671X.2008.10.001

摘要

阵元间互耦是分析阵列天线问题中的难点之一,常用矩量法加以分析.这里提出了一种改进的矩量法,把线天线等效为带状线,用RWG基函数作为阵元表面电流的展开函数,精确计算了阵元之间的互阻抗矩阵,从而在分析问题时计入了互耦的影响.以等间距的Chebyshev线阵为例,分析讨论了在阵元位置和副瓣电平不同的情况下,互耦对阵列方向图的影响.得到了一些有用的结论,对以后深入研究互耦问题有一定的指导意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨莘元	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	197	1357	17.0	27.0
2	王垚	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	15	156	6.0	12.0
3	李明	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	48	135	7.0	10.0
4	冯春楠	哈尔滨工程大学信息与通信工程学院	4	23	2.0	4.0