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微通道板质量污染对二代倒像微光管性能的影响
微通道板质量污染对二代倒像微光管性能的影响
作者:
张太民
徐江涛
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
微通道板
质量污染
倒像微光管
摘要:
为解决二代微光倒像管研究中制管合格率低问题,对微通道板处理过程工艺质量和放气成分进行分析.结果表明,微通道板质量不合格、表面污染、性能一致性差是造成器件阴极灵敏度低、视场暗斑、分辨率低、背景大的主要因素.对其采用清洗,无油真空炉处理工艺,消除了工艺过程对微通道板的污染,研制成功了总体性能全面合格的二代倒像微光管.
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内容分析
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文献信息
篇名
微通道板质量污染对二代倒像微光管性能的影响
来源期刊
真空电子技术
学科
工学
关键词
微通道板
质量污染
倒像微光管
年,卷(期)
2008,(6)
所属期刊栏目
工艺与应用
研究方向
页码范围
34-36
页数
3页
分类号
TN105
字数
1762字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1002-8935.2008.06.010
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
徐江涛
西安应用光学研究所微光夜视技术国防科技重点实验室
21
106
6.0
9.0
2
张太民
西安应用光学研究所微光夜视技术国防科技重点实验室
2
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研究主题发展历程
节点文献
微通道板
质量污染
倒像微光管
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
真空电子技术
主办单位:
北京真空电子技术研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1002-8935
CN:
11-2485/TN
开本:
大16开
出版地:
北京749信箱7分箱
邮发代号:
创刊时间:
1959
语种:
chi
出版文献量(篇)
2372
总下载数(次)
7
总被引数(次)
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