芯片检测中不变几何矩算法的研究

• 作者: 何绪昊 戚其丰 胡跃明
• 来源期刊: 电子工艺技术
• 学科: 工学
• 关键词: 不变几何矩 元器件识别 贴片机 SMT
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: SMT/PCB
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TN60
• 字数: 3033字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3474.2008.01.003

摘要

在高速高精度贴片机研制过程中,贴片元器件的图像定位和识别的可靠性、速度与精度一直是提高贴片机生产效率的瓶颈.为了解决这个问题,我们提出了一种基于不变几何矩提取芯片位置和图像特性的算法,并对该算法特点进行了深入研究.该算法通过对不变几何矩的匹配,达到检测芯片位置和型号的目的.该算法具有旋转、缩放和平移不变性的特点.在实验中该算法取得了较好的试验效果,提高了贴片元器件的图像定位和识别的可靠性、速度与精度.该算法可以广泛应用于芯片检测、生产和贴装中.可以使用在高速高精度全自动贴片机、AOI检测等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	胡跃明		147	1905	22.0	37.0
2	戚其丰		24	216	8.0	14.0
3	何绪昊		1	5	1.0	1.0