基于虚拟仪器的电缆材料杂质检测的研究

• 作者: 徐国盛
• 来源期刊: 电线电缆
• 学科: 工学
• 关键词: 虚拟仪器 杂质颗粒 电缆材料 电荷耦合器件(CCD)
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 27-29,34
• 页数: 4页
• 分类号: TM206
• 字数: 1679字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-6901.2008.04.009

摘要

根据电缆材料杂质检测现状,提出了基于虚拟仪器的检测方案.运用TCD132D芯片,建立了杂质检测系统.通过虚拟示波器DSO2902对系统采集的数据进行分析和处理,从而有效地识别杂质颗粒的存在与否并能够准确地计算存在杂质颗粒的尺寸、位置等.结果表明,该系统能够准确地测出XLPE电缆料杂质颗粒的横向与纵向尺寸,并能够确定该杂质颗粒所处的准确位置与杂质颗粒的个数等特性,其分辨力可达到20μm,误差小于10%.杂质的检出率达100%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐国盛		1	0	0.0	0.0