原文服务方: 电子产品可靠性与环境试验       
摘要:
随着微电子技术的飞速发展,数控系统核心部件的微处理器、输入输出模块以及集成电路的可靠性越来越高的问题,所以在机床数控系统中,数控单元很少出故障,反而是其外围电气控制部分存在可靠性差、故障率较高的问题,特别是国产数控系统,这种问题尤其突出,主要表现在元器件质量、制造工艺技术以及安装使用等几个方面.着重从电气控制系统方面介绍其可靠性,并对其增长性进行分析与挖掘.
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文献信息
篇名 数控机床电气控制系统可靠性增长研究
来源期刊 电子产品可靠性与环境试验 学科
关键词 数控机床 电气控制 干扰源 可靠性
年,卷(期) 2008,(6) 所属期刊栏目 综述与展望
研究方向 页码范围 43-46
页数 4页 分类号 TG502.34
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1672-5468.2008.06.011
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵中敏 淮海工学院东港学院 88 506 12.0 17.0
2 朱伟 淮海工学院东港学院 6 45 3.0 6.0
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研究主题发展历程
节点文献
数控机床
电气控制
干扰源
可靠性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
双月刊
1672-5468
44-1412/TN
大16开
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
1962-01-01
中文
出版文献量(篇)
2803
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0
总被引数(次)
9369
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