SunScan冠层分析仪在测量大豆叶面积指数中的应用

• 作者: 刘刚 段兴武 谢云 高晓飞
• 来源期刊: 生态学杂志
• 学科: 生物学
• 关键词: SunScan冠层分析仪 椭球体叶倾角分布参数 叶面积指数 大豆
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 技术与方法
• 页码范围: 862-866
• 页数: 5页
• 分类号: Q94-33
• 字数: 4273字
• 语种: 中文

摘要

SunScan冠层分析仪是一种利用间接测量法观测叶面积指数(LAI)的仪器,通过给定反映植被几何特征的椭球体叶倾角分布参数(ELADP),测量透射率获得LAI.于2005、2006年在黑龙江省嫩江县鹤山农场布设大豆试验地,通过比较LI-3100叶面积仪直接测量的LAI和SunSean冠层分析仪间接测量的LAI,得出ELADP率定结果,并验证了SunScan冠层分析仪测量LAI的精度.结果表明:用SunScan测量大豆冠层LAI时,ELADP取值为4.0;设定该参数后,SunSean测量的LAI与LI-3100测量结果一致,二者拟合的线性回归方程显著;随生长季叶面积的变化,SunScan测量误差略有变化;播种后50～85 d,Sun-Scan观测值偏低7.2%,播种96 d以后观测值偏高12.5%,播种后85～96 d与LI-3100观测值十分接近,误差只有2.0%;经过参数率定后的SunScan测量LAI效果较好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘刚	北京师范大学地理学与遥感科学学院地表过程与资源生态国家重点实验室	20	92	6.0	9.0
2	谢云	北京师范大学地理学与遥感科学学院地表过程与资源生态国家重点实验室	49	2283	21.0	47.0
3	高晓飞	北京师范大学地理学与遥感科学学院地表过程与资源生态国家重点实验室	18	300	10.0	17.0
4	段兴武	北京师范大学地理学与遥感科学学院地表过程与资源生态国家重点实验室	3	37	2.0	3.0