晶间合金化Ga元素对烧结Nd-Fe-B磁性能与显微组织的影响

• 作者: 包小倩 周寿增 孙绪新 张茂才 董清飞 高学绪
• 来源期刊: 粉末冶金技术
• 学科: 工学
• 关键词: 显微结构 磁性能 晶间合金化Ga 烧结Nd-Fe-B磁体
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 材料·制品·应用
• 页码范围: 430-434
• 页数: 5页
• 分类号: TF12
• 字数: 2731字
• 语种: 中文

摘要

用晶间合金化方式直接在(NdPr)29.6(FeCuZr)69.2 B1.0粉中加入0.3%Ga(质量分数,以下同),磁体的内禀矫顽力从943.5 kA/m提高到1 181.0 kA/m.分别用晶间合金化方式和传统合金化方式在(NdPrDy)30.0(FecuZr)69.0B1.0中加入0.2%Ga,前者的内禀矫顽力达到1 224.0 kA/m,远高于后者的971.5 kA/m.显微组织结构分析表明:用晶间合金化方式加Ga后改善了边界结构,没加Ga时晶粒边界不平直,晶界处缺陷较多;加Ga后晶界平直光滑,Ga主要分布在晶界,而晶内Ga含量极低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张茂才	北京科技大学新金属材料国家重点实验室	64	579	14.0	20.0
2	包小倩	北京科技大学新金属材料国家重点实验室	38	237	9.0	13.0
3	周寿增	北京科技大学新金属材料国家重点实验室	62	575	14.0	20.0
4	高学绪	北京科技大学新金属材料国家重点实验室	50	414	12.0	17.0
5	孙绪新	北京科技大学新金属材料国家重点实验室	6	120	5.0	6.0
6	董清飞		4	43	3.0	4.0