T5781／T5781ES——高性能的MCP测试系统

• 作者: 刘恕
• 来源期刊: 半导体行业
• 学科: 工学
• 关键词: FLASH MCP MLC ECC T5781 T5781 ES per-site switch matrix 测试成本
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 61-64
• 页数: 4页
• 分类号: TN05
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘恕	爱德万测试苏州有限公司上海分公司	3	0	0.0	0.0