Liq/ITO结构表面与界面的AFM和XPS研究

• 作者: 孙硕 张福甲 李建丰 欧谷平
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 原子力显微镜 X射线光电子能谱 Liq/ITO 表面和界面电子态 有机发光器件
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 390-394
• 页数: 5页
• 分类号: TN304
• 字数: 3488字
• 语种: 中文

摘要

采用真空蒸发沉积的方法,在覆盖有ITO膜的玻璃基片上沉积一层Liq.利用原子力显微镜(AFM)对制备的Liq/ITO样品表面进行扫描,发现Liq粉末表现为岛状形态,其表面极不平整,存在大量裂缝和空隙,有许多针孔.用X射线光电子能谱(XPS)研究了Liq/ITO紧密接触的表面和界面电子状态.对样品In3d和Sn3d的电子状态分析也证实了ITO表面沉积Liq膜存在裂缝和针孔,这些裂缝和针孔吸附了空气中大量的气体分子;对C1s谱的分析发现,ITO膜表面存在一定的C污染;对N1s谱分析可知,界面处N原子与O、In和Sn原子有相互作用,这将会影响Liq的发光颜色.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	欧谷平	兰州大学物理系	27	88	6.0	7.0
2	张福甲	兰州大学物理系	71	318	9.0	14.0
3	李建丰	兰州大学物理系	10	10	2.0	2.0
7	孙硕	兰州大学物理系	9	17	3.0	3.0