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摘要:
集成电路测试是保证产品质量的重要手段,如何检测MCU类复杂大规模集成电路是测试的难点.文章以实际测试过的电路80C196KC为例,详细地介绍了"硬件学习法"生成测试码点的硬件构成和测试向量的采集方法.为实现对80C196KC丰富指令及各种寻址方式的完全测试,给出了测试指令的序列结构和数据结构.在此基础上给出了生成测试向量、测试A/D转换器及直流、交流参数的测试方法.
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关键词热度
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文献信息
篇名 16位单片机测试技术研究
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 测试 测试向量 A/D转换器
年,卷(期) 2008,(3) 所属期刊栏目 电路设计
研究方向 页码范围 28-30,34
页数 4页 分类号 TN407
字数 2664字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2008.03.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 薛宏 中国电子科技集团公司第四十七研究所 2 4 1.0 2.0
2 王怀荣 中国电子科技集团公司第四十七研究所 3 3 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
测试
测试向量
A/D转换器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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