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摘要:
利用化学气相沉积法(chemical vapor deposition,CVD),以Zn4(OH)2(O2CCH3)6·2H2O为固相源、ZnNO3为掺杂源制备出p型ZnO∶N薄膜,采用XRD,霍耳效应和PL谱对薄膜进行分析,研究了衬底温度对膜结构、电学性质和光致发光特性的影响.结果表明,生长温度较低时,薄膜呈p型导电特性且电阻率随衬底温度的升高而下降,衬底温度为400℃时,载流子浓度达到+5.127×1017cm-3,电阻率为0.04706Ω·cm,迁移率为259 cm2/(V·s),并且一个月后的测试表明薄膜仍呈p型导电特性.当衬底温度过高时薄膜从p型导电转为n型.
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文献信息
篇名 利用一种简单方法制备的高质量的p型ZnO薄膜及其性质
来源期刊 科学通报 学科
关键词 化学气相沉积法 ZnO N薄膜 p型 迁移率 载流子浓度
年,卷(期) 2008,(6) 所属期刊栏目 论文
研究方向 页码范围 623-626
页数 4页 分类号
字数 语种 中文
DOI
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1 陈金菊 36 309 11.0 16.0
2 邓宏 72 653 14.0 22.0
3 李燕 29 259 9.0 15.0
4 戴丽萍 16 54 5.0 6.0
5 袁兆林 6 16 3.0 4.0
6 毛飞燕 2 0 0.0 0.0
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