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摘要:
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超深亚微米SOI NMOSFET中子辐照效应数值模拟
中子辐照
超深亚微米
SOI NMOSFET
数值模拟
超深亚微米集成电路可靠性技术
超深亚微米集成电路
可靠性
高k栅介质
金属栅
Cu/低k互连
基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究
信号完整性
串扰
IR压降
超深亚微米
超深亚微米工艺下基于热量分区的SoC热感知测试调度方法
超深亚微米
片上系统
热量分区
热感知测试调度
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 尖峰退火在深亚微米超浅结中的应用
来源期刊 集成电路应用 学科
关键词
年,卷(期) 2008,(6) 所属期刊栏目 基础知识
研究方向 页码范围 45-46
页数 2页 分类号
字数 2006字 语种 中文
DOI
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相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
月刊
1674-2583
31-1325/TN
16开
上海宜山路810号
1984
chi
出版文献量(篇)
4823
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15
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