散射环境下钨的质量吸收系数测量

• 作者: 江孝国 王云秀 王伟 王婉丽 祈双喜 谭肇
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 化学
• 关键词: 质量吸收系数 辐射成像系统 ^60CO 测量 环境 散射 响应关系 射频加速器
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 102-103
• 页数: 2页
• 分类号: O657.34

摘要

CsI：T1晶体在辐射成像系统中的作用是非常重要的，利用CCD作为图像记录的X光探测系统的响应性能与其有密切的关系。为了得到响应关系的大致形式，在30MeV的射频加速器上，曾经用厚度为5，10，20mm的CsI：T1晶体作过研究，对于每一种厚度的CsI：T1晶体，响应还是线性的，但是彼此之间响应度的相对关系还是存在较大差异；由于^60Co放射源的特点，又专门设计了用^60Co放射源作为高能γ光子源来对系统的响应特性作定量研究，并且得到了在几乎没有散射影响下的响应关系，实验结果严格符合理论推导结论，