介质腔中自发辐射原子的寿命分布

• 作者: 林圣路 王树宝 贾正茂
• 来源期刊: 原子与分子物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 自发辐射率 衰减寿命
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 607-612
• 页数: 6页
• 分类号: O43
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0364.2008.03.025

摘要

在本文中,我们研究了半无限大介质板夹层对空腔中激发态原子的自发辐射率的影响,并利用寿命分布函数来描述原子衰变动力学的性质,在对称和非对称的结构中,分别计算了以原子在板中的相对位置为自变量的原子自发辐射率的函数,计算结果表明,原子的自发辐射率与介质腔的宽度以及外层半无限大介质板的折射率有关,介质腔可以增强或抑制激发态原子的激发,当介质腔的宽度足够大时,原子的寿命分布呈现指数衰减的形势,这些理论结果和实验值相符合的非常好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林圣路	山东师范大学物理与电子科学学院	50	78	4.0	5.0
2	贾正茂	山东师范大学物理与电子科学学院	5	7	2.0	2.0
3	王树宝	山东师范大学物理与电子科学学院	5	10	2.0	3.0