多元探测器芯片测试系统设计

• 作者: 彭振宇 林渊 郑宾
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外探测器 背景电流 漏电流 动态阻抗 AgilentVEE
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 297-300
• 页数: 4页
• 分类号: TN215
• 字数: 3728字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2008.05.014

摘要

多元探测器芯片测试系统用于多元红外探测器晶片、芯片测试筛选.该设备主要检测晶片、芯片的背景电流、漏电流、动态阻抗和C-V特性等参数,使之满足探测器要求.该设备是各种焦平面阵列红外探测器研制生产的必需设备.论文设计了一套基于Agilent VEE开发环境的多元探测器芯片测试系统.实验表明,设备具有较好的测量精度,达到了预期的设计目标.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑宾		10	278	5.0	10.0
2	林渊		2	18	1.0	2.0
3	彭振宇		2	15	1.0	2.0