基于S3C2410x的JTAG检测平台的设计与实现

• 作者: 吴光敏 闵俊杰
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 JTAG BGA 电路板 短路 断路
• 年，卷（期）: 2008,（11）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 53-55,59
• 页数: 4页
• 分类号: TP306
• 字数: 1536字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-2552.2008.11.016

摘要

阐述了边界扫描技术的基本原理,从设计方法和实现技术方面对基于边界扫描技术的芯片短断路检测设计进行了研究,并给出了具体的实现方法;以针对CPU为BGA封装的电路板设计了一套短路、断路故障检测平台为例,经验证,该设计有效地缩短了电路板的生产、周期,并且可排除PC独立运行,降低了其维修测试费用,因而将具有更为广泛的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴光敏	昆明理工大学理学院	61	243	8.0	10.0
2	闵俊杰	昆明理工大学理学院	1	2	1.0	1.0