SOC基于LFSR的混合模式测试

• 作者: 王明湘 赵小康
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: SOC SOB LFSR 混合模式测试 BIST
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 专业测试
• 页码范围: 34-35,39
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2938字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2008.12.012

摘要

随着集成电路深亚微米制造技术和设计技术迅速发展.系统芯片(SOC)作为一种解决方案得到了越来越广泛的应用.SOC的测试中,内建自测试(Built.In Self-Test,BLST)成为人们研究的热点.文中对SOC的设计特点及其BIST中的混合模式测试进行了探讨.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王明湘	苏州大学电子信息学院	13	29	4.0	5.0
2	赵小康	苏州大学电子信息学院	1	0	0.0	0.0