一种新型光电设备响应时间与探测概率自动测试系统

• 作者: 时成文 石碧艳 隋强强
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: 闭环控制 TMS320LF2407 可变光阑 响应时间 探测概率
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 光电工程系统技术
• 页码范围: 38-41
• 页数: 4页
• 分类号: TP274+.5
• 字数: 2533字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2008.01.011

摘要

提出了一种实用新型光电设备系统响应时间及探测概率自动测试系统.该系统采用闭环控制原理,以TMS320LF2407 DSP为核心,通过可控模拟目标源、双余度反馈,保证了测试结果的可靠性及准确性.大量的测试试验验证了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	隋强强		6	25	3.0	5.0
2	时成文		2	5	1.0	2.0
3	石碧艳		1	4	1.0	1.0