基于SOPC图像处理的二维微小位移测量

• 作者: 何伟 张玲 项立
• 来源期刊: 应用科技
• 学科: 工学
• 关键词: 图像处理 二维 微小位移
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 现代电子技术
• 页码范围: 9-12
• 页数: 4页
• 分类号: TN47|TN79
• 字数: 2621字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-671X.2008.02.003

摘要

物体微小位移的测量中方法甚多,但非接触及多维测量则具有更好前景.以图像处理为基础的测量技术具有广阔应用的空间,但图像处理中数据量较大,实时性是一较难解决的问题.以SOPC技术及图像处理技术为基础,对物体亚微米级的二维平移进行测量,在保证测量过程的非接触、实时、小体积、精度高的要求前提下,较好解决了实时测量这一问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何伟	重庆大学通信工程学院	88	1119	16.0	30.0
2	张玲	重庆大学通信工程学院	78	908	14.0	27.0
3	项立	重庆大学通信工程学院	9	12	2.0	2.0