半导体激光器线宽展宽因数的测量

• 作者: 叶会英 宋兆欣 张旭 禹延光
• 来源期刊: 光通信研究
• 学科: 工学
• 关键词: 光反馈自混合干涉 线宽展宽因数 半导体激光器
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 页码范围: 60-63
• 页数: 4页
• 分类号: TN247
• 字数: 2051字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-8788.2008.02.019

摘要

光反馈自混合干涉技术是一种新出现的有别于传统双光束干涉的测试技术.文章基于此技术对半导体激光器进行线宽展宽因数的测量,以激光器HL7851G为对象进行了大量的实验,实验结果与线宽测量法基本一致,相对误差只有3.22%.相比线宽测量法,光反馈自混合法具有成本低、精度高的优点,是一种更加简洁有效的测量方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶会英	郑州大学信息工程学院	82	415	11.0	15.0
2	禹延光	郑州大学信息工程学院	35	327	11.0	16.0
3	张旭	郑州大学信息工程学院	53	153	7.0	9.0
4	宋兆欣	郑州大学信息工程学院	1	4	1.0	1.0