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国内外集成电路二次筛选实验数据及分析
国内外集成电路二次筛选实验数据及分析
作者:
钟越红
原文服务方:
电子质量
二次筛选
合格率
失效模式
摘要:
文章介绍了142种型号的国内外集成电路样品二次筛选的实验数据分类统计分析的情况.该样品数据涉及22个国内外著名的集成电路生产厂家及其产品的二次筛选合格率、不合格品的失效模式等.并简要分析了失效的原因,警示了需要保证满足预定用途质量与可靠性水平的型号产品在装机前对所用集成电路进行二次筛选的必要性.
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文献信息
篇名
国内外集成电路二次筛选实验数据及分析
来源期刊
电子质量
学科
关键词
二次筛选
合格率
失效模式
年,卷(期)
2008,(9)
所属期刊栏目
绿色质量与管理
研究方向
页码范围
45-48
页数
4页
分类号
TN406
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-0107.2008.09.018
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
钟越红
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所
4
2
1.0
1.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
版权信息
全文
全文.pdf
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合格率
失效模式
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子质量
主办单位:
中国电子质量管理协会
工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室)
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-0107
CN:
44-1038/TN
开本:
大16开
出版地:
邮发代号:
创刊时间:
1980-01-01
语种:
chi
出版文献量(篇)
6848
总下载数(次)
0
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