国内外集成电路二次筛选实验数据及分析

• 作者: 钟越红
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 二次筛选 合格率 失效模式
• 年，卷（期）: 2008,（9）
• 所属期刊栏目: 绿色质量与管理
• 页码范围: 45-48
• 页数: 4页
• 分类号: TN406
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2008.09.018

摘要

文章介绍了142种型号的国内外集成电路样品二次筛选的实验数据分类统计分析的情况.该样品数据涉及22个国内外著名的集成电路生产厂家及其产品的二次筛选合格率、不合格品的失效模式等.并简要分析了失效的原因,警示了需要保证满足预定用途质量与可靠性水平的型号产品在装机前对所用集成电路进行二次筛选的必要性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟越红	湖北航天技术研究院计量测试技术研究所	4	2	1.0	1.0