程序代码运行时缺陷分析及检测

• 作者: 何永辉 杨俊 杨玲萍
• 来源期刊: 现代电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 运行时缺陷 缺陷检测 静态分析 测试工具
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 65-68
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何永辉	中国电子科技集团公司第二十八研究所	4	9	1.0	3.0
2	杨玲萍	中国电子科技集团公司第二十八研究所	13	57	5.0	7.0
3	杨俊	中国电子科技集团公司第二十八研究所	6	9	2.0	3.0