预焙阳极微量元素XRF测定方法的研究

• 作者: 张爱芬 李智慧 马慧侠
• 来源期刊: 分析测试学报
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 经验系数 散射线内标法 预焙阳极 粉末压片法
• 年，卷（期）: 2008,（9）
• 所属期刊栏目: 实验技术
• 页码范围: 998-1001,1004
• 页数: 5页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2550字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-4957.2008.09.022

摘要

使用X射线荧光光谱法测定预焙阳极中的微量和痕量元素,以粉末压片法制样,选用瑞士R ＆ D碳素公司的C-300系列标准样品,并用仪器软件Super Q中提供的飞利浦模式的经验系数(Classic)和铑(Rh)靶康普顿散射线内标法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应,通过充分研磨样品消除颗粒效应,使用Magix(PW2403)X射线荧光光谱仪对样品中的F、Na、Mg、Al、Si、P、S、Cl、K、Ca、Ba、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Pb、Sr和Sn共22个元素进行测定,11次测定的相对标准偏差小于10%,多数元素的检出限小于1 μg·g-1.用R ＆ D标准样品的混合样验证,测量结果与标准值的误差在化学分析允许范围内.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张爱芬	中国铝业股份有限公司郑州研究院	16	138	6.0	11.0
2	马慧侠	中国铝业股份有限公司郑州研究院	17	127	5.0	11.0
3	李智慧	中国铝业股份有限公司郑州研究院	3	22	2.0	3.0