集成电路机械冲击试验的研究

• 作者: 宫建华
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 机械冲击 冲击台材料 试验夹具
• 年，卷（期）: 2008,（9）
• 所属期刊栏目: 封装、组装与测试
• 页码范围: 8-10
• 页数: 3页
• 分类号: TN306
• 字数: 2259字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2008.09.003

摘要

机械冲击是集成电路检验中评估元器件特性的关键试验,试验目的是测定元器件能否承受中等程度的冲击,这种冲击是模拟器件在装卸、运输或现场操作中由于突然受力或运动状态的改变而产生的.文章主要分析了集成电路机械冲击试验的原理,论述了冲击加速度值、脉冲持续时间与冲击台底座材料之间的关系,提出试验过程中操作人员应该注意的问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宫建华		4	12	2.0	3.0