基于多分辨率分析的X荧光能谱的除噪与弱峰检测

• 作者: 吴建平 邹永祥
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 化学
• 关键词: 多分辨率分析 X荧光能谱 除噪 弱峰检测
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 260-264
• 页数: 5页
• 分类号: O657.62|TP391
• 字数: 4635字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2008.04.005

摘要

在对X荧光谱噪声的分析基础上,阐述了多分辨率分析的基本思想,并将之应用于X射线能谱定量分析中的噪声的消除,取得了良好的效果.利用噪声和信号小波变换的性质随尺度的加大而显著不同的特点,运用小波多分辨率分析进行信号噪声的消除,可提高弱峰的检测能力,实验结果表明,该降噪的方法不仅计算速度快,而且和其它的方法相比,对低含量元素形成的弱峰的定量分析结果也更加理想.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邹永祥	成都理工大学核技术与自动化工程学院	7	28	4.0	5.0
5	吴建平		1	9	1.0	1.0