SSRF定时系统硬件温漂性能测试

• 作者: 刘德康 殷重先 赵黎颖
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 工学
• 关键词: 长期温漂 相位 算法 通用总线接口 定时系统
• 年，卷（期）: 2008,（2）
• 所属期刊栏目: 新一代同步辐射技术及应用
• 页码范围: 87-89
• 页数: 3页
• 分类号: TP273
• 字数: 1402字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2008.02.002

摘要

介绍一种利用相移检测硬件温漂性能的测试平台,系统阐述了硬件构架并详细推导了软件算法,具有硬件构建简单、软件算法清晰、检测精度高和通用性广等特点.文章给出了利用该平台测试上海同步辐射光源(Shanghai Synchrotron Radiation Facility,SSRF)定时系统硬件温漂性能的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	殷重先	中国科学院上海应用物理研究所	14	48	4.0	6.0
2	赵黎颖	中国科学院上海应用物理研究所	6	17	3.0	3.0
3	刘德康	中国科学院上海应用物理研究所	15	63	5.0	6.0