基于面阵CCD的密度测量系统研制

• 作者: 扶新 王毅 郭永彩 高潮
• 来源期刊: 激光杂志
• 学科: 工学
• 关键词: 密度测量 非接触 面阵CCD 图像处理
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 激光系统与应用
• 页码范围: 77-78
• 页数: 2页
• 分类号: TP205
• 字数: 2220字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-2743.2008.05.033

摘要

本文介绍了一种基于而阵CCD传感技术的带倒角梓形特殊工件密度测量系统.传统的接触式测量方法效率低、人为误差大.对此,提出采用基于计算机视觉技术的非接触式测量.在介绍测量原理的基础上,详细介绍了测量软件的图像处理部分.其功能包括图像灰度化、图像分割、轮廓提取、特征点坐标计算等.采用该技术能一次测量芯块的多个参数,实现了芯块密度及几何尺寸的快速准确测壁,具有非接触、分辨率高和自动化程度高等优点,足密度测址的一项有效技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭永彩	重庆大学光电工程学院教育部光电技术及系统重点实验室	135	1535	21.0	31.0
2	高潮	重庆大学光电工程学院教育部光电技术及系统重点实验室	122	1443	21.0	31.0
3	王毅	重庆大学光电工程学院教育部光电技术及系统重点实验室	23	104	6.0	9.0
4	扶新	重庆大学光电工程学院教育部光电技术及系统重点实验室	6	60	3.0	6.0