推扫成像中针对细分采样累加的反降晰算法

• 作者: 张滢清 王建宇
• 来源期刊: 量子电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 遥感 反降晰 孔径函数 线列推扫
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 所属期刊栏目: 激光应用
• 页码范围: 610-614
• 页数: 5页
• 分类号: TN215
• 字数: 3233字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-5461.2008.05.017

摘要

为了降低细分采样累加方式对线列推扫成像清晰度的影响,利用孔径函数的变换,提出了相应的反降晰方法,实现了同一个位置上的像元累加,使得推扫方向上的孔径函数和线列方向等同,消除了累加过程中像元位移的影响.在细分采样累加倍数为4的情况下,Nyquist频率处的传递函数值提高7%.通过对反降晰算法的仿真采样验证,结果表明本算法完全可以达到预定要求,算法简单,只需少量加法器,在目前的成像仪电路中稍微修改可编程芯片即可投入工程应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王建宇	中国科学院上海技术物理研究所	162	1466	20.0	27.0
2	张滢清	华侨大学信息科学与工程学院	4	5	1.0	2.0