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摘要:
IPC与国际高级电子封装委员会(JIC)将于2008年5月21日至22日联合举办一场技术研讨会,提供有关电子产品互连技术最新趋势的信息。本此会议将与第二届亚特兰大国际高级电子封装论坛协同举行。其中,论坛由佐治亚理工学院提供。技术研讨会上,国际高级电子封装委员会成员及业界技术领袖将共同探讨环境友好制造、三维整合、插入式基底及各种标准活动。
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 IPC与国际高级电子封装委员会联办技术研讨会
来源期刊 印制电路资讯 学科 工学
关键词 技术研讨会 电子封装 委员会 IPC 国际 互连技术 电子产品 亚特兰大
年,卷(期) 2008,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 84
页数 1页 分类号 TP273
字数 语种
DOI
五维指标
传播情况
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引文网络
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2008(0)
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研究主题发展历程
节点文献
技术研讨会
电子封装
委员会
IPC
国际
互连技术
电子产品
亚特兰大
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
印制电路资讯
双月刊
2070-8467
广东省深圳市南山区南山大道1088号南园
出版文献量(篇)
7384
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