基于双重人工神经网络的XP-70绝缘子串污闪概率模型的建立

• 作者: 徐建源 林莘 滕云 齐伟夫
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子 人工污秽试验 污秽闪络 人工神经网络
• 年，卷（期）: 2008,（12）
• 所属期刊栏目: 电工材料
• 页码范围: 23-27,47
• 页数: 6页
• 分类号: TM852|TM216
• 字数: 4493字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6753.2008.12.004

摘要

针对高压电网运行中绝缘子污闪风险概率评估的困难,建立了XP-70(9片串)绝缘子的基于双重人工神经网络的污闪概率模型.污闪概率模型比较准确地反映了环境因素、等值附盐密度(ESDD)、污秽闪络电压水平及污秽闪络概率之间的非线性关系,建立了包括估计绝缘子的自然积污污秽度、预测绝缘子污秽闪络电压值及根据前两个模型的输出结果计算出该绝缘子污闪的风险概率大小的三个子模型.进行了针对三个子模型的一系列试验,试验结果表明,该预测模型的预测结果基本满足工程需要,具有实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐建源	沈阳工业大学电气工程学院	179	2413	26.0	39.0
2	林莘	沈阳工业大学电气工程学院	194	2544	28.0	41.0
3	滕云	沈阳工业大学电气工程学院	17	88	5.0	8.0
4	齐伟夫		4	32	2.0	4.0