微波消解-萃取光度法测定高纯氧化铝中SiO2的含量

• 作者: 游玉萍
• 来源期刊: 材料研究与应用
• 关键词: 微波消解 萃取光度法 高纯氧化铝 二氧化硅
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 分析与检测
• 页码范围: 80-82
• 页数: 3页
• 分类号: O657.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9981.2008.01.020

摘要

采用微波消解溶样,用正戊醇萃取硅钼蓝萃取光度法测定高纯氧化铝中SiO2的含量.该方法选择性好,灵敏度高,硅回收率为96.0%～106%,适用于高纯氧化铝中SiO2含量为0.0005%～0.010%的测定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	游玉萍	广州有色金属研究院分析测试中心	8	39	4.0	6.0