特征元素增量法直接测定富镍矿石的品位

• 作者: 于姗姗 夏尚铭 程锋 赖万昌 郭伟
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 化学
• 关键词: XPF 增量法 基体效应 镍矿
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 968-970
• 页数: 3页
• 分类号: O657.34
• 字数: 1843字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2008.05.025

摘要

采用便携式高分辨率能量色散X射线荧光仪和特征元素增量法对未知富镍矿石进行测定.实验结果表明:对含Ni为1%～3%的镍矿石,增量法分析的相对误差小于2%,达到部分允许误差限要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭伟	成都理工大学核技术与自动化工程学院	9	55	5.0	7.0
2	于姗姗	成都理工大学核技术与自动化工程学院	7	39	4.0	6.0
3	夏尚铭	成都理工大学核技术与自动化工程学院	4	22	3.0	4.0
4	赖万昌		1	7	1.0	1.0
5	程锋		1	7	1.0	1.0