不同盐密、灰密下XP-160绝缘子串交流闪络特性研究

• 作者: 叶自强 梅冰笑
• 来源期刊: 浙江电力
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子 灰密 盐密 闪络电压
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与探索
• 页码范围: 13-16,32
• 页数: 5页
• 分类号: TM852
• 字数: 2499字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-1881.2008.06.004

摘要

选择7片串XP-160瓷绝缘子为试品.在人工雾室研究了灰密(NSDD)和盐密(ESDD)对XP-160绝缘子污秽闪络特性的影响,分析了NSDD的影响原因,并采用2种方法对试验数据进行了分析和拟合,得到了XP-160绝缘子污闪电压Uf与ESDD和NSDD的相互关系.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梅冰笑		11	275	5.0	11.0
2	叶自强		17	493	10.0	17.0