PMMA/SiO2纳米复合材料的断面原子力显微镜分析

• 作者: 何素芹 刘文涛 吴琳琳 左阳 朱诚身
• 来源期刊: 现代仪器与医疗
• 关键词: 纳米复合材料 原位聚合 PMMA SiO2
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 39-41,44
• 页数: 4页
• 分类号: TH74
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7916.2008.06.011

摘要

原位聚合法制备PMMA/nano-SiO2纳米复合材料,用DSC,TGA和溶解实验研究复合材料基本的结构和性能.用AFM对复合材料的断面进行详细的分析.结果表明,经表面处理的SiO2无机填料在低含量的情况下可以分散的比较均匀;高含量SiO2很难在PMMA基体中分散均匀,而且使PMMA的断面变得较为粗糙.SiO2填充粒子的添加和用量对基体的热稳定性、玻璃化转变温度、材料的溶解性都有较大的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何素芹	郑州大学材料科学与工程学院	96	559	13.0	17.0
2	刘文涛	郑州大学材料科学与工程学院	96	393	11.0	14.0
3	朱诚身	郑州大学材料科学与工程学院	105	653	14.0	18.0
4	吴琳琳	郑州大学材料科学与工程学院	5	23	3.0	4.0
5	左阳	郑州大学材料科学与工程学院	1	3	1.0	1.0