一种智能卡电性能可靠性的测试方法

• 作者: 时良平 赵坤
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 智能卡 电性能 可靠性 测试
• 年，卷（期）: 2008,（3）
• 所属期刊栏目: 测控系统
• 页码范围: 62-66
• 页数: 5页
• 分类号: TM933
• 字数: 4217字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2008.03.014

摘要

随着智能卡以其自身高效、安全、便捷的特点在众多领域的应用,人们对其可靠性的要求也越来越高,因此有效的可靠性测试显得尤为重要.本文主要以接触式智能卡为例针对智能卡可靠性测试的一方面--电性能测试提出一种方便可行的测试方法.该方法在总结智能卡测试方法标准ISO/IEC10373的基础上,改进了相关测试项测试方法,根据实际情况补充了漏灌电流测试并详细说明其测试方法.根据测试需要设计了电性能全覆盖测试的程序,自动生成电性能测试报告.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	时良平	北京邮电大学自动化学院	19	147	7.0	12.0
2	赵坤	北京邮电大学自动化学院	2	5	2.0	2.0