面阵测向性能相对于阵元位置误差敏感性研究

• 作者: 刘洪盛 肖先赐
• 来源期刊: 电波科学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 面阵 位置误差 DOA 敏感性 锥角
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 90-94
• 页数: 5页
• 分类号: TN011
• 字数: 3792字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-0388.2008.01.015

摘要

阵元位置误差引起阵列流形变化,进而导致测向误差.面阵阵列流形是C<'N>中的曲面,研究了该曲面与信号子空间的关系,提出了由面阵阵元位置误差推算测向误差的方法,定义了一个衡量面阵测向性能相对于阵元位置误差敏感性的一个指数.仿真结果说明该方法和指数在一定条件下有效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖先赐	电子科技大学电子工程学院	118	2490	28.0	46.0
2	刘洪盛	电子科技大学电子工程学院	11	64	5.0	7.0