衰落信道下的多天线最佳信道容量研究

• 作者: 杨仕文 聂在平 肖海林
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 信道容量 分集技术 衰落程度 高斯信道
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 所属期刊栏目: 通信与信息工程
• 页码范围: 11-13
• 页数: 3页
• 分类号: TN911.2
• 字数: 1486字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2008.01.004

摘要

在多天线高斯信道最佳容量的基础上,推导出在Nakagami和Weibull衰落下,采用分集技术的最佳信道容量的数学表达式.数值模拟表明信道容量与衰落程度和分集的性能有关.对于相同的平均信噪比,两种衰落信道容量随衰落程度的增大而增大,衰落程度对Weibull衰落信道容量的影响较大.对于相同的衰落程度,在平均信噪比相同的情况下,采用选择性分集比未采用选择性分集得到信道的最佳容量大.并得到了采用切换合并分集技术Weibull衰落信道下的最佳切换门限.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	聂在平	电子科技大学电子工程学院	216	2216	23.0	36.0
2	肖海林	桂林电子科技大学信息与通信学院	80	336	9.0	13.0
6	杨仕文	电子科技大学电子工程学院	13	196	8.0	13.0