Ln0.5Sr0.5CoO3-δ阴极薄膜材料的XRD和XPS研究

• 作者: 丁铁柱 姜涛 张利文 朱志强 王强 赵倩
• 来源期刊: 稀土
• 学科: 化学
• 关键词: Ln0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜 XRD XPS 微结构
• 年，卷（期）: 2008,（5）
• 页码范围: 5-9
• 页数: 5页
• 分类号: O614.33|O484
• 字数: 2907字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-0277.2008.05.002

摘要

采用离子束溅射法在氧化钇稳定的氧化锆(YSZ)衬底和铝酸镧(LaAlO3)衬底上溅射Ln0.5Sr0.5CoO3-δ(Ln=La ,Pr ,Nd )薄膜.测试了不同工艺制备的Ln0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜的XRD谱和XPS谱,研究了不同衬底上Ln0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜微结构及化学状态.结果表明,在YSZ 衬底上制备的Ln0.5Sr0.5CoO3-δ薄膜氧空位浓度相应的高于在LaAlO3衬底上的氧空位浓度,Nd0.5Sr0.5CoO3-δ /YSZ薄膜的氧空位浓度最高,有利于提高氧离子的输运性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王强	内蒙古大学稀土材料重点实验室	16	59	5.0	6.0
3	丁铁柱	内蒙古大学稀土材料重点实验室	27	110	6.0	8.0
6	张利文	内蒙古大学稀土材料重点实验室	14	23	3.0	4.0
10	朱志强	内蒙古大学稀土材料重点实验室	6	37	5.0	6.0
11	赵倩	内蒙古大学稀土材料重点实验室	6	54	5.0	6.0