基于局部放电统计参量的脉冲电压下绝缘老化分析

• 作者: 刘君 刘曦 吴广宁 吴建东 周凯
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 脉冲电压 局部放电 偏斜度 峭度
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 电工理论
• 页码范围: 6-12
• 页数: 7页
• 分类号: TM835|TM851
• 字数: 2967字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6753.2008.04.002

摘要

主要针对匝间和对地绝缘电磁线在脉冲电压下老化后的局部放电特征进行了研究.通过不同老化时间的局部放电相位相关分析,在高频脉冲电压下老化后放电次数相位分布出现明显的"放电丛"现象,并通过工频老化后的局部放电结果对此加以证实.通过两种不同电磁线老化特征对比,匝间绝缘和对地绝缘呈现不同的放电特征,匝间主要以内部气隙放电为主,而对地绝缘电磁线则以槽放电为主.此外,测量和分析了局部放电统计参量(如偏斜度、峭度、不对称度等)随老化时间的变化,结果表明平均放电量的偏斜度和老化时间有着一定联系.为更深入地研究脉冲电压下绝缘老化机理打下了坚实的基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	刘君	西南交通大学电气工程学院	32	562	16.0	23.0
3	周凯	西南交通大学电气工程学院	22	284	10.0	16.0
4	吴建东	西南交通大学电气工程学院	16	184	8.0	13.0
5	刘曦	西南交通大学电气工程学院	16	142	7.0	11.0