YAG:Ce3+荧光粉对白光LED衰减的影响

• 作者: 张海翔 王晶 苗洪利 陈静波
• 来源期刊: 光电子·激光
• 学科: 工学
• 关键词: 白光LED 光衰 YAG:Ce3+荧光粉 荧光强度 色坐标
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 光电子器件和系统
• 页码范围: 453-455
• 页数: 3页
• 分类号: TN312+.8
• 字数: 1717字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-0086.2008.04.008

摘要

对封装的蓝光和白光LED进行了光衰对比试验,结果表明,白光LED初期衰减明显比蓝光LED快.因此,又对自制的YAG:Ce3+荧光粉进行了光照、温度测试,结果发现,荧光粉在光照作用下,荧光强度出现先降后升然后稳定的现象,跟白光LED的衰减相吻合,结合色坐标的偏移,蓝光LED本身的衰减仍是白光LED衰减的主要原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王晶	中国海洋大学信息科学与工程学院	97	473	12.0	18.0
2	苗洪利	中国海洋大学信息科学与工程学院	44	193	8.0	12.0
3	张海翔	中国海洋大学信息科学与工程学院	2	30	1.0	2.0
4	陈静波	中国海洋大学信息科学与工程学院	3	86	3.0	3.0