大功率半导体激光器加速寿命测试方法

• 作者: 仲琳 安振峰 张存善 王晓燕 荣宝辉 陈国鹰
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 半导体激光器 加速老化 可靠性 寿命试验
• 年，卷（期）: 2008,（4）
• 所属期刊栏目: 集成电路设计与开发
• 页码范围: 360-362
• 页数: 3页
• 分类号: TN248.4
• 字数: 1979字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2008.04.023

摘要

大功率半导体激光器在高可靠性光学系统的应用中,寿命值预测十分关键.采用808 nm波长的无Al大功率半导体单管激光器进行了40、80℃的恒定温度的加速老化试验.应用Arrhenius和对数正态分布的理论对试验结果进行分析,计算出激光器长期退化的激活能为0.52 eV,推导得到激光器室温下工作的平均寿命为15 000 h.并对试验后的器件进行失效分析,找出失效原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈国鹰	河北工业大学信患工程学院	62	307	9.0	12.0
2	安振峰	中国电子科技集团公司第十三研究所	31	150	7.0	10.0
3	张存善	河北工业大学信患工程学院	34	249	7.0	14.0
4	王晓燕	中国电子科技集团公司第十三研究所	18	49	4.0	6.0
5	荣宝辉	河北工业大学信息工程学院	2	25	2.0	2.0
9	仲琳	河北工业大学信息工程学院	2	25	2.0	2.0