甲酰胺对P2O5-SiO2系玻璃导电性能的影响

• 作者: 于宝刚
• 来源期刊: 电子元件与材料
• 学科: 工学
• 关键词: 电子技术 P2O5-SiO2玻璃 甲酰胺 微孔结构 质子导电性
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 研究与试制
• 页码范围: 79-81
• 页数: 3页
• 分类号: TN604
• 字数: 2666字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2028.2008.06.023

摘要

利用sol-gel法制备了P2O5-SiO2系质子导电玻璃.借助扫描电镜、电导率测试等手段,研究了甲酰胺对玻璃的结构和导电性能的影响.结果表明,甲酰胺能使玻璃形成微孔结构,提高质子电导率.在30 ℃,RH为50%的条件下,玻璃的电导率为10-3～10-2 S·cm-1.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	于宝刚	中国人民武装警察部队学院科研部	20	101	6.0	9.0