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摘要:
5次光刻工艺(简称5PEP)是一种新的研究,分为背沟道刻蚀型和背沟道保护型.5PEP改变了TFT结构和原理,相对于常用的7 PEP可缩短生产周期,减少使用设备,提升成品率,降低成本.研究制定了背沟道刻蚀型与背沟道保护型5PEP的主要工序步骤,并通过50.8 mm液晶屏多次小批量投产进行试验.探讨了刻蚀型5PEP中a-Si岛刻蚀不良、SiNx刻蚀跨断等问题.取得合理的工艺参数,使5PEP能应用于小尺寸液晶屏的TFT量产.
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文献信息
篇名 TFT 5次光刻背沟道刻蚀型与保护型工艺
来源期刊 半导体技术 学科 工学
关键词 薄膜晶体管 5次光刻 背沟道刻蚀型 背沟道保护型 a-Si岛
年,卷(期) 2008,(12) 所属期刊栏目 工艺技术与材料
研究方向 页码范围 1080-1083
页数 4页 分类号 TN305.7|O484.1
字数 1965字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1003-353X.2008.12.009
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 辛玉洁 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 1 3 1.0 1.0
10 于春崎 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 2 6 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
薄膜晶体管
5次光刻
背沟道刻蚀型
背沟道保护型
a-Si岛
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
月刊
1003-353X
13-1109/TN
大16开
石家庄179信箱46分箱
18-65
1976
chi
出版文献量(篇)
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24788
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