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TFT 5次光刻背沟道刻蚀型与保护型工艺
TFT 5次光刻背沟道刻蚀型与保护型工艺
作者:
于春崎
辛玉洁
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
薄膜晶体管
5次光刻
背沟道刻蚀型
背沟道保护型
a-Si岛
摘要:
5次光刻工艺(简称5PEP)是一种新的研究,分为背沟道刻蚀型和背沟道保护型.5PEP改变了TFT结构和原理,相对于常用的7 PEP可缩短生产周期,减少使用设备,提升成品率,降低成本.研究制定了背沟道刻蚀型与背沟道保护型5PEP的主要工序步骤,并通过50.8 mm液晶屏多次小批量投产进行试验.探讨了刻蚀型5PEP中a-Si岛刻蚀不良、SiNx刻蚀跨断等问题.取得合理的工艺参数,使5PEP能应用于小尺寸液晶屏的TFT量产.
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文献信息
篇名
TFT 5次光刻背沟道刻蚀型与保护型工艺
来源期刊
半导体技术
学科
工学
关键词
薄膜晶体管
5次光刻
背沟道刻蚀型
背沟道保护型
a-Si岛
年,卷(期)
2008,(12)
所属期刊栏目
工艺技术与材料
研究方向
页码范围
1080-1083
页数
4页
分类号
TN305.7|O484.1
字数
1965字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1003-353X.2008.12.009
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
辛玉洁
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
1
3
1.0
1.0
10
于春崎
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
2
6
2.0
2.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
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2019(6)
引证文献(0)
二级引证文献(6)
研究主题发展历程
节点文献
薄膜晶体管
5次光刻
背沟道刻蚀型
背沟道保护型
a-Si岛
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体技术
主办单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
出版周期:
月刊
ISSN:
1003-353X
CN:
13-1109/TN
开本:
大16开
出版地:
石家庄179信箱46分箱
邮发代号:
18-65
创刊时间:
1976
语种:
chi
出版文献量(篇)
5044
总下载数(次)
38
总被引数(次)
24788
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