基于同位素稀释的锂同位素质谱测定技术

• 作者: 刘勇 邓大超 魏兴俭
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 化学
• 关键词: 测定技术 同位素质谱 同位素稀释 同位素丰度 校准质谱法 锂 天体物理学 热表面电离
• 年，卷（期）: 2008,（1）
• 页码范围: 144
• 页数: 1页
• 分类号: O657.63

摘要

锂作为最轻的金属元素，在地质学、天体物理学和核工业等领域，得到了广泛的应用，这些应用都要求对锂同位素丰度进行准确测定。测定锂同位素丰度常用的方法为热表面电离质谱法，但是测量存在系统偏差，需要校正，目前所用的校正方法有标准校正法和校准质谱法。