基于LPC2136的精确温度测量

• 作者: 田书林 谢湘南 马冰
• 来源期刊: 中国测试技术
• 学科: 工学
• 关键词: 过采样 求均值 ADC转换器 LPC2136芯片 分辨率 温度测量
• 年，卷（期）: 2008,（6）
• 所属期刊栏目: 计算机与信息技术
• 页码范围: 44-46
• 页数: 3页
• 分类号: TP212|TH811
• 字数: 1857字
• 语种: 中文

摘要

针对LPC2136片内ADC的分辨率较低.不能满足测量精度的需要,而外接高分辨率的ADC成本又较高的情况,提出了采用过采样和求均值的方法增加LPC2136片内ADC的分辨率.基于过采样技术提高模数转换器ADC转换分辨率的基本原理及电路模型,给出了一个应用过采样技术增加LPC2136片内模数转换器ADC的分辨率转换结果的实现示例及其软件实现方法,并进行了温度实测实验,结果表明测量分辨率明显提高,能满足测量精度的需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田书林	电子科技大学自动化工程学院	136	1001	16.0	25.0
2	谢湘南	电子科技大学自动化工程学院	9	11	2.0	3.0
6	马冰		1	0	0.0	0.0